| 发明名称 | 用于推导光学物品车床的几何缺陷的方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于推导光学物品车床的几何缺陷的方法，该方法包括缺陷值推导步骤，在该步骤过程中至少基于与检查件(10)的光学和/或几何特性相关的光学和/或几何数据的指示信息推导出至少一个几何缺陷值。 | ||
| 申请公布号 | CN106575110A | 申请公布日期 | 2017.04.19 |
| 申请号 | CN201580042958.X | 申请日期 | 2015.08.07 |
| 申请人 | 埃西勒国际通用光学公司 | 发明人 | X·比尔泰;J·莫伊内;G·博尔托;J-P·肖沃 |
| 分类号 | G05B19/404(2006.01)I;B23B5/00(2006.01)I;B24B13/06(2006.01)I;G01N21/958(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I | 主分类号 | G05B19/404(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人 | 牛南辉;魏子翔 |
| 主权项 | 用于推导光学物品车床(1)的几何缺陷的方法，包括缺陷值推导步骤，在该步骤过程中至少基于与检查件(10)的光学和/或几何特性相关的光学和/或几何数据的指示信息推导出至少一个几何缺陷值。 | ||
| 地址 | 法国沙朗通勒蓬 | ||