发明名称 |
表面电位分布测量装置和表面电位分布测量方法 |
摘要 |
旋转电机的电场缓和系统(3)的表面电位分布测量装置(1)中,通过使用激光器(21)与电场缓和系统(3)的表面(测试部位(L))之间的泡克耳斯晶体(23),从而被泡克耳斯晶体(23)与测试部位(L)之间的反射镜(24)反射的激光的光强度与泡克耳斯晶体(23)的第1端面与第2端面之间的电位差即输出电压相对应。另外,通过使用具有跟踪逆变器脉冲电压的高频分量的频带的光检测器(25),从而即使在产生逆变器脉冲电压的情况下,也可利用光检测器(25)来检测出上述光强度。因此,表面电位分布测量装置(1)能够根据上述光强度(输出电压)来测量出设想产生逆变器脉冲电压时的电场缓和系统(3)的表面电位。 |
申请公布号 |
CN104024874B |
申请公布日期 |
2017.03.29 |
申请号 |
CN201280057715.X |
申请日期 |
2012.11.21 |
申请人 |
东芝三菱电机产业系统株式会社;国立大学法人 东京大学 |
发明人 |
坪井雄一;山田慎一郎;吉满哲夫;日高邦彦;熊田亚纪子;池田久利 |
分类号 |
G01R31/34(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/34(2006.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人 |
宋俊寅 |
主权项 |
一种表面电位分布测量装置,对在旋转电机的定子线圈的端部即定子线圈端部施加的电场缓和系统的表面电位进行测量,其包括:激光器,该激光器射出激光;泡克耳斯晶体,该泡克耳斯晶体沿着所述激光的传播方向在长边方向上延伸,从所述激光器射出的所述激光入射至该泡克耳斯晶体的第1端面;反射镜,该反射镜的表面设置于所述泡克耳斯晶体的第2端面,并使从所述泡克耳斯晶体的第1端面入射来的所述激光朝着与入射方向相反的方向反射;光检测器,该光检测器具有跟踪逆变器脉冲电压的高频分量的频带,向该光检测器入射由所述反射镜反射的所述激光,该光检测器检测与输出电压相对应的检测光强度以作为所述激光的光强度,该输出电压是所述泡克耳斯晶体的第1端面与第2端面之间的电位差;电压校正数据库,在测试前所进行的电压校正处理中,对所述反射镜的背面施加各不相同的输入电压时,该电压校正数据库存放有输入电压‑输出电压特性,该输入电压‑输出电压特性表示各不相同的所述输入电压与对所述反射镜的背面施加所述输入电压时的所述泡克耳斯晶体的所述输出电压之间的关系;以及运算部,在测试时所进行的表面电位测定处理中,对所述反射镜的背面配置有所述电场缓和系统的表面的一部分以作为测试部位的情况下,该运算部将向所述定子线圈施加电压时的所述泡克耳斯晶体的所述输出电压作为测试时输出电压,根据存放在所述电压校正数据库中的所述输入电压‑输出电压特性,确定与所述测试时输出电压相对应的输入电压以作为所述电场缓和系统的表面电位,在将所述定子线圈端部的两端部中的、与所述旋转电机的定子铁芯相接的端部作为第一位置,将其另一个端部作为第二位置的情况下,所述测试部位表示从所述第一位置在所述长边方向上延伸的距离,在所述表面电位测定处理中,对于所述反射镜的背面,在从所述第一位置到所述第二位置为止各不相同的位置上设置有所述测试部位时,所述运算部生成测试部位‑表面电位特性,该测试部位‑表面电位特性表示各不相同的所述测试部位、与对所述反射镜的背面设置有所述测试部位时所确定的所述电场缓和系统的所述表面电位之间的关系。 |
地址 |
日本东京 |