发明名称 一种校正MEMS计时时钟的溢出补偿方法及装置
摘要 本发明提供一种校正MEMS计时时钟的溢出补偿方法及装置,该方法包括:获取当前温度值下MEMS计时时钟的初始频率误差值;计算需要获得频率所需要的降频参数;以初始频率误差值为初始值进行依次累加,当累加值数值大于等于1时发生溢出1;当数值小于等于‑1时发生溢出‑1;当数值大于‑1且小于1时不发生溢出;采用值为降频参数与溢出值之和的降频比对MEMS计时时钟的实际输出频率进行降频,获得需要的频率。本发明运用0/1序列平均化MEMS计时时钟在某一温度下的初始频率误差值,实现了双向溢出补偿,扩展方案简单易行,具有成本优势。
申请公布号 CN104143960B 申请公布日期 2017.03.22
申请号 CN201410331284.2 申请日期 2014.07.11
申请人 钜泉光电科技(上海)股份有限公司 发明人 张斌阳;张明雄;傅有炜;徐晨曦
分类号 H03B5/04(2006.01)I 主分类号 H03B5/04(2006.01)I
代理机构 上海光华专利事务所 31219 代理人 徐秋平
主权项 一种校正MEMS计时时钟的溢出补偿方法,其特征在于,所述校正MEMS计时时钟的溢出补偿方法包括:获取当前温度值下MEMS计时时钟的初始频率误差值res,0≤|res|&lt;1;计算需要获得频率<img file="FDA0001175879880000011.GIF" wi="424" he="133" />所需要的降频参数M;其中,F表示MEMS计时时钟在当前温度值下的实际输出频率值,F<sub>0</sub>表示MEMS计时时钟的标准输出频率值;r表示分频比,随着初始频率误差值res的变化而变化,故有M‑1≤r<sub>min</sub>≤r≤r<sub>max</sub>≤M+1,M为大于零的正整数;以res为初始值进行依次累加,即sum=sum+res,当累加值sum数值大于等于1时发生溢出1,即溢出值ov=1;当sum数值小于等于‑1时发生溢出‑1,即溢出值ov=‑1;当sum数值大于‑1且小于1时不发生溢出,即溢出值ov=0;采用降频比R=M+ov对MEMS计时时钟的实际输出频率F进行降频,获得需要的频率f<sub>0</sub>。
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区牛顿路200号8号楼601室