液晶滴注控制系统、方法及装置

摘要

本发明涉及显示技术领域，公开了一种液晶滴注控制系统、方法及装置，以提高液晶面板的液晶填充量的精度，改善液晶显示装置的显示质量，并提高产品的生产效率。该液晶滴注控制系统，包括：液晶滴注机；相位分析装置，用于采集并计算入射光透过液晶液滴形成的寻常光与非常光的当前相位差，以及记录液晶液滴与入射光的接触时间；与相位分析装置和液晶滴注机信号连接的控制装置，用于根据液晶液滴与所述入射光的接触时间、以及当前相位差与液晶液滴的体积的对应关系得到液晶液滴的体积；根据液晶液滴的体积确定液晶液滴的质量；当液晶液滴的质量超出液晶液滴的允许质量范围时，输出滴注停止信号，控制液晶滴注机停止滴注。

主权项

一种液晶滴注控制系统，其特征在于，包括：液晶滴注机；相位分析装置，用于采集入射光透过液晶液滴形成的寻常光与非常光并计算寻常光与非常光的当前相位差，以及记录液晶液滴与所述入射光的接触时间；控制装置，与所述相位分析装置和液晶滴注机信号连接，用于根据液晶液滴与所述入射光的接触时间、以及所述寻常光与非常光的当前相位差与液晶液滴的体积的对应关系得到液晶液滴的体积；根据液晶液滴的体积确定液晶液滴的质量；当液晶液滴的质量超出液晶液滴的允许质量范围时，输出滴注停止信号，控制液晶滴注机停止滴注；其中，所述液晶液滴与所述入射光的接触时间、以及所述寻常光与非常光的当前相位差与液晶液滴的体积的对应关系具体为：$V_{LC}=\underset{0}{\overset{\frac{1}{4}{\mathrm{gT}}^2}{\int }}\pi \times {\left(\frac{\Delta \left(t_1\right)}{2\Delta n}\frac{\lambda }{2\pi }\right)}^{2}dx+\underset{\frac{1}{4}{\mathrm{gT}}^2}{\overset{0}{\int }}\pi \times {\left(\frac{\Delta \left(t_2\right)}{2\Delta n}\frac{\lambda }{2\pi }\right)}^{2}dx$其中，V_LC为液晶液滴的体积，△(t₁)为入射光透过液晶液滴内的光程从零至最大时的寻常光与非常光的当前相位差，△(t₂)为入射光透过液晶液滴内的光程从最大至零时的寻常光与非常光的当前相位差，△n为液晶折射率异向性，g为重力加速度，T为液晶液滴与所述入射光的接触时间，λ为入射光在真空中的波长。