| 发明名称 | 采样方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种采样方法和装置。其中，该方法包括：获取温度传感器采集到的处理器所处的实际环境温度；判断实际环境温度与校准温度的差值是否超出预设差值范围；如果差值超出预设差值范围，则根据差值对应的补偿系数对处理器当前的采样信号进行补偿。本发明解决了现有技术中的采样方法由于环境温度的变化所导致的采样精度较低的技术问题。 | ||
| 申请公布号 | CN106452439A | 申请公布日期 | 2017.02.22 |
| 申请号 | CN201610798952.1 | 申请日期 | 2016.08.31 |
| 申请人 | 北京德威特继保自动化科技股份有限公司 | 发明人 | 常红旗;赵长兵;李慧勇;张鉴;侯红民;欧阳强;高龙集;王敬仁;蒋玉红;薛利民;郝立鹏;刘兴昌;常亮;李增利;康颖;张嗣勇;李利霞 |
| 分类号 | H03M1/10(2006.01)I;H03M1/12(2006.01)I | 主分类号 | H03M1/10(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人 | 韩建伟;张永明 |
| 主权项 | 一种采样方法，其特征在于，在处理器的预设范围内设置温度传感器，所述采样方法包括：获取所述温度传感器采集到的所述处理器所处的实际环境温度；判断所述实际环境温度与校准温度的差值是否超出预设差值范围；如果所述差值超出所述预设差值范围，则根据所述差值对应的补偿系数对所述处理器当前的采样信号进行补偿。 | ||
| 地址 | 101318 北京市顺义区天竺空港工业区B区安庆大街甲9号 | ||