摘要 |
Verfahren zum Erkennen von Fehlstellen von auf einer Werkzeugoberfläche abgelegten Faserhalbzeugen (3) mit den Schritten: a) Ermitteln eines Höhenprofils von einer Halbzeugoberfläche abgelegter Faserhalbzeuge mittels eines optischen Lichtprojektionsverfahrens, bei dem die Halbzeugoberfläche mit Licht einer Lichtquelle (6) aus einer ersten Richtung beleuchtet, das von der Halbzeugoberfläche reflektierte Licht aus einer anderen, zweiten Richtung mit einer Kamera (8) aufgenommen und das Höhenprofil in Abhängigkeit von dem reflektierten Licht aus den aufgenommenen Bilddaten durch eine Bildauswerteeinheit berechnet wird, b) Beleuchten der Halbzeugoberfläche zusätzlich zu dem Licht der Lichtquelle (6) des Lichtprojektionsverfahrens mittels einer Beleuchtungseinheit (11) und Aufnehmen des reflektierten Lichtes der Beleuchtungseinheit mittels einer optischen Aufnahmeeinheit (8), c) Ermitteln einer Intensitätsverteilung des reflektierten Lichtes der Beleuchtungseinheit aus den aufgenommenen Bilddaten durch die Bildauswerteeinheit, und d) Ermitteln von Fehlstellen der abgelegten Faserhalbzeuge (3) in Abhängigkeit von dem ermittelten Höhenprofil der Halbzeugoberfläche und der ermittelten Intensitätsverteilung durch die Bildauswerteeinheit (9), gekennzeichnet durch Beleuchten der Halbzeugoberfläche mittels der Beleuchtungseinheit (11) mit mehreren Lichtquellen (11a, 11b, 11c) aus unterschiedlichen Winkeln, wobei während des Aufnehmens des reflektierten Lichtes der Beleuchtungseinheit die Lichtverhältnisse der Beleuchtung variiert werden, indem verschiedene Kombinationen von Lichtquellen der Beleuchtungseinheit die Halbzeugoberfläche beleuchten. |