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Verfahren zum Messen von dreidimensionalen Koordinaten einer Oberfläche eines Objekts, wobei das Verfahren Folgendes umfasst: Bereitstellen eines Linienscanners, der einen Prozessor, einen Projektor und eine Kamera umfasst, wobei der Linienscanner einen ersten Bezugsrahmen aufweist, wobei der Projektor eine Lichtquelle und eine Projektorlinse umfasst, wobei die Lichtquelle dafür ausgelegt ist, eine Lichtlinie im Wesentlichen gerade auszugeben, wenn sie auf eine Ebene senkrecht zu einer Ausbreitungsrichtung der Lichtlinie projiziert wird, wobei der Projektor ein Projektorperspektivitätszentrum umfasst, wobei die Kamera eine lichtempfindliche Matrix und eine Kameralinse umfasst, wobei die Kamera ein Kameraperspektivitätszentrum umfasst, wobei die Kameralinse dafür ausgelegt ist, ein Bild eines Abschnitts der Oberfläche auf der lichtempfindlichen Matrix zu bilden, wobei die lichtempfindliche Matrix eine Matrix von Pixeln umfasst, wobei die Matrix von Pixeln M Reihen und N Spalten aufweist, wobei M und N ganze Zahlen sind, wobei jedes der Pixel in der Matrix von Pixeln dafür ausgelegt ist, eine von jedem der Pixel erfasste optische Energie entsprechend einem digitalen Wert in einen elektrischen Wert umzuwandeln, wobei der Prozessor dafür ausgelegt ist, die digitalen Werte zu empfangen, wobei der Linienscanner eine Grundlinie aufweist, wobei die Grundlinie ein geradliniges Segment zwischen dem Projektorperspektivitätszentrum und dem Kameraperspektivitätszentrum ist, wobei der Projektor eine Projektorausrichtung in Bezug auf die Grundlinie hat, wobei die Kamera eine Kameraausrichtung in Bezug auf die Grundlinie hat, wobei der Prozessor dafür ausgelegt ist, die Lichtquelle zu steuern und die digitalen Werte zu empfangen; ... |
