发明名称 炭化珪素膜の成膜装置のクリーニング方法
摘要 【課題】チャンバ内の部材等に被覆されたTaCコートを保護しつつその上に形成されたSiC堆積物を選択的に除去できる炭化珪素膜の成膜装置のクリーニング方法を提供することである。【解決手段】本発明の炭化珪素膜の成膜装置のクリーニング方法は、チャンバ内にハロゲン化水素ガスを導入する第1工程と、第1工程後に、酸素ガスをチャンバ内に導入する第2工程と、を有する。【選択図】図1
申请公布号 JP2017011102(A) 申请公布日期 2017.01.12
申请号 JP20150125079 申请日期 2015.06.22
申请人 昭和電工株式会社 发明人 栗原 秀行;谷本 陽祐
分类号 H01L21/205;C23C16/448 主分类号 H01L21/205
代理机构 代理人
主权项
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