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发明名称
炭化珪素膜の成膜装置のクリーニング方法
摘要
【課題】チャンバ内の部材等に被覆されたTaCコートを保護しつつその上に形成されたSiC堆積物を選択的に除去できる炭化珪素膜の成膜装置のクリーニング方法を提供することである。【解決手段】本発明の炭化珪素膜の成膜装置のクリーニング方法は、チャンバ内にハロゲン化水素ガスを導入する第1工程と、第1工程後に、酸素ガスをチャンバ内に導入する第2工程と、を有する。【選択図】図1
申请公布号
JP2017011102(A)
申请公布日期
2017.01.12
申请号
JP20150125079
申请日期
2015.06.22
申请人
昭和電工株式会社
发明人
栗原 秀行;谷本 陽祐
分类号
H01L21/205;C23C16/448
主分类号
H01L21/205
代理机构
代理人
主权项
地址
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