发明名称 | 一种滤膜厚度的检测方法及其检测装置 | ||
摘要 | 本发明提出一种颗粒物采集滤膜厚度的检测方法及检测装置,首先得到初始光源曝光图片,通过LabVIEW软件处理采集到的图像信息得到图像的灰度值,之后对已知厚度的标准采集滤膜进行曝光得到透过滤膜的光源曝光图片,通过LabVIEW软件处理得到图像的灰度值,根据两幅图片灰度值的比值可以得到采集滤膜的透光率,进一步得到采集滤膜厚度与透光率之间的关系。改变光源的色彩,选择效果最佳的发光二极管的色彩,计算出标准采集滤膜厚度与透光率之间的关系,之后可以依此关系判断其他未知滤膜的厚度。本发明的检测方法和装置利用光电检测原理,可以方便精确检测出滤膜厚度,方便质检人员进行质量管理和控制,进一步提高滤膜产品质量。 | ||
申请公布号 | CN106310955A | 申请公布日期 | 2017.01.11 |
申请号 | CN201610860318.6 | 申请日期 | 2016.09.28 |
申请人 | 天津理工大学 | 发明人 | 王晓丽;朱修军;彭士涛;张嘉琪;杨文 |
分类号 | B01D65/10(2006.01)I | 主分类号 | B01D65/10(2006.01)I |
代理机构 | 天津滨海科纬知识产权代理有限公司 12211 | 代理人 | 李成运 |
主权项 | 一种滤膜厚度的检测方法,其特征在于,包括:(1)采用红、绿、蓝三基色光分别作为测试光源;(2)在三基色其中之一的测试光源下,得到该测试光源的无滤膜的初始曝光图像,并计算得到图像的灰度值;(3)使用厚度已知的标准采集滤膜,在该测试光源下,得到透过滤膜的光源曝光图像,并计算得到图像的灰度值;(4)根据两幅图像灰度值的比值可以得到所述标准采集滤膜的透光率;(5)选用若干厚度不同的标准采集滤膜,重复步骤(3)和(4),得到各标准采集滤膜的透光率,进一步得到在该测试光源下所述标准采集滤膜厚度与透光率之间的关系;(6)分别采用三基色测试光源的另外两色,重复步骤(2)‑(5),得到各测试光源下所述标准采集滤膜厚度与透光率之间的关系;(7)选择效果最佳的测试光源作为检测光源,对未知厚度的滤膜进行检测,得到透过该滤膜的光源曝光图像,并计算得到图像的灰度值,从而得到该滤膜的透光率,根据该光源下标准采集滤膜厚度与透光率之间的关系,得到该滤膜厚度。 | ||
地址 | 300384 天津市西青区宾水西道391号 |