发明名称 |
PCB板内层偏位测试装置 |
摘要 |
本实用新型公开了一种PCB板内层偏位测试装置,包括测试件、待测PCB板、及设置于所述待测PCB板上至少一个检测区域,所述待测PCB板包括偏层检测机构和偏距测试机构,所述检测区域包括接地孔、偏层检测孔组及偏距测试孔组,所述偏层检测机构与所述偏层检测孔组连接,所述偏距测试机构与所述偏距测试孔组连接,所述测试件包括第一触针和第二触针,所述第一触针与所述接地孔电性插接,所述第二触针与所述偏层检测孔组、所述偏距测试孔组可电性插接。可以非常方便快捷的测得待测PCB板上具体哪一层板发生偏位及具体的偏移大小是多少,测试结果准确性高,测试装置操作简单,可操作性强。 |
申请公布号 |
CN205749810U |
申请公布日期 |
2016.11.30 |
申请号 |
CN201620694901.X |
申请日期 |
2016.07.01 |
申请人 |
广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;广州市兴森电子有限公司 |
发明人 |
谢维鑫;黄光明;邓智河 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
周修文 |
主权项 |
一种PCB板内层偏位测试装置,其特征在于,包括测试件、待测PCB板、及设置于所述待测PCB板上至少一个检测区域,所述待测PCB板包括偏层检测机构和偏距测试机构,所述检测区域包括接地孔、偏层检测孔组及偏距测试孔组,所述偏层检测机构与所述偏层检测孔组连接,所述偏距测试机构与所述偏距测试孔组连接,所述测试件包括第一触针和第二触针,所述第一触针与所述接地孔电性插接,所述第二触针与所述偏层检测孔组、所述偏距测试孔组均可电性插接。 |
地址 |
510663 广东省广州市广州高新技术产业开发区科学城光谱中路33号 |