| 发明名称 | 用于测量表面的装置和方法 | ||
| 摘要 | 一种用于识别和测量受测物的平坦、弯曲或弧形表面中的局部形状偏差的方法，其中利用分析设备来分析所述表面的三维测量数据（D），该方法在以客观和便于解释的分析结果来无损地检测受测物方面被扩展和改进为使得分析设备使用至少一个虚拟滤波元件作为用于识别平坦或凸形表面中的凹形部分区域的凹滤波器和/或作为用于识别平坦或凹形表面中的凸形部分区域的凸滤波器，滤波元件确定形状偏差的数值，并且该数值作为测量值通过输出设备被输出。还说明了一种用于执行相应方法的装置。 | ||
| 申请公布号 | CN103459978B | 申请公布日期 | 2016.10.12 |
| 申请号 | CN201280017957.6 | 申请日期 | 2012.03.14 |
| 申请人 | INB视觉股份公司 | 发明人 | T·利林布鲁姆;W·施密特 |
| 分类号 | G01B21/20(2006.01)I;G01B21/30(2006.01)I | 主分类号 | G01B21/20(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人 | 胡利鸣 |
| 主权项 | 一种用于识别和测量受测物的平坦、弯曲或弧形表面中的局部形状偏差的方法，其中利用分析设备来分析所述表面的三维测量数据(D)，其特征在于，所述分析设备使用至少一个虚拟滤波元件作为用于识别平坦或凸形表面中的凹形部分区域的凹滤波器、和/或作为用于识别平坦或凹形表面中的凸形部分区域的凸滤波器，所述虚拟滤波元件确定所述局部形状偏差的数值，并且所述数值作为测量值通过输出设备被输出，所述虚拟滤波元件被定向为与所述三维测量数据(D)尽可能平行，且相对于所述三维测量数据(D)的测量点被分别定向为使得当前观察的测量点(MP)处于所述虚拟滤波元件的起始于所述虚拟滤波元件的重心(SP)的法向(N)上，所述三维测量数据(D)的与所述虚拟滤波元件具有最小距离的至少一个测量点(MP)被定义为支持点(AP)。 | ||
| 地址 | 德国马格德堡 | ||