| 发明名称 | 方便检测多角度标志的逆反射标志测量仪 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开了一种方便检测多角度标志的逆反射标志测量仪，其技术方案要点是包括光学暗箱和光源，光源设置在光学暗箱内，光学暗箱的表面设置有开口，开口处设置有遮挡开口的试样，光学暗箱上固接有对试样反射的光进行引出的多根光纤，每根光纤与试样的一个放置角度相对应且每根光纤连接一个对光纤引出的光进行检测的光探测器，达到了可以进行多角度测量的目的。 | ||
| 申请公布号 | CN205620298U | 申请公布日期 | 2016.10.05 |
| 申请号 | CN201620340332.9 | 申请日期 | 2016.04.21 |
| 申请人 | 北京中交工程仪器研究所 | 发明人 | 杨宗文 |
| 分类号 | G01N21/17(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/17(2006.01)I |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 一种方便检测多角度标志的逆反射标志测量仪，包括光学暗箱(1)和光源，光源设置在光学暗箱(1)内，光学暗箱(1)的表面设置有开口，开口处设置有遮挡开口的试样，其特征在于：光学暗箱(1)上固接有对试样反射的光进行引出的多根光纤(4)，每根光纤(4)与试样的一个放置角度相对应且每根光纤(4)连接一个对光纤(4)引出的光进行检测的光探测器。 | ||
| 地址 | 102600 北京市大兴区黄村镇刘一村委会西500米 | ||