| 发明名称 | 基于半导体制冷装置的LM-80老化测试系统及控制方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种基于半导体制冷装置的LM‑80老化测试系统，包括：测试箱和设于测试箱内的控制器，测试箱内还设有箱体温度调节组件和灯壳温度调节组件。本发明还提出了一种上述LM‑80老化测试系统的控制方法。本发明能自动控制环境温度和灯壳温度，测试效率高且结果精确。 | ||
| 申请公布号 | CN105974230A | 申请公布日期 | 2016.09.28 |
| 申请号 | CN201610304154.9 | 申请日期 | 2016.05.10 |
| 申请人 | 倍科质量技术服务（东莞）有限公司 | 发明人 | 韩丽芬 |
| 分类号 | G01R31/00(2006.01)I;G01R31/44(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 深圳市康弘知识产权代理有限公司 44247 | 代理人 | 胡朝阳;尹彦 |
| 主权项 | 一种基于半导体制冷装置的LM‑80老化测试系统，包括：测试箱和设于测试箱内的控制器，其特征在于，所述测试箱内还设有箱体温度调节组件和灯壳温度调节组件；所述箱体温度调节组件包括：与所述控制器连接的箱体温度感应器和加热棒，所述控制器接收箱体温度感应器的检测信号，并控制加热棒的工作状态；所述灯壳温度调节组件包括：与所述控制器连接的灯壳温度感应器和半导体制冷装置，所述控制器接收箱体温度感应器的检测信号，并控制半导体制冷装置的工作状态。 | ||
| 地址 | 523000 广东省东莞市塘厦镇莆心湖社区浦龙邨69号 | ||