一种底面引线管壳封装的微波器件测试装置

摘要

本实用新型公开了一种底面引线管壳封装的微波器件测试装置，涉及微波器件测试技术领域。本实用新型包括测试平台、定位机构、锁紧机构及上升顶出机构，所述的测试平台支撑于架体之上，定位机构用于对被测管壳进行定位，锁紧机构对定位机构进行锁紧，上升顶出机构能够把被测管壳顶起。其结构简单、使用方便、成本低廉、定位准确，能够提高测试数据的真实可靠性，同时避免管壳受到损坏。

主权项

一种底面引线管壳封装的微波器件测试装置，其特征在于，包括测试平台（12)、定位机构、锁紧机构（2）及上升顶出机构，所述的测试平台（12)支撑于架体(13)之上，定位机构压接在被测管壳（10）的边缘，锁紧机构（2）对定位机构进行锁紧，上升顶出机构能够把被测管壳（10）顶起。