一种DEH的点检仪系统及检测方法

摘要

本发明公开了一种DEH的点检仪系统，包括控制MCU芯片、源MCU芯片、信号发生器、校准接口、D/A电路、A/D电路、AT组态、放大电路、上位机以及用于提供电能的电源，上位机与控制MCU芯片相连接，控制MCU芯片通过D/A电路、放大电路及校准接口与待测模块相连接，控制MCU芯片与源MCU芯片相连接，源MCU芯片通过信号发生器与待测模块相连接，待测模块通过控制MCU芯片与AT组态和上位机相连接；本发明还提供了一种DEH的检测方法。本发明可以有效的完成对DEH模块的各项性能进行检测，结构简单。

主权项

一种DEH的检测方法，其特征在于，基于DEH的点检仪系统，所述DEH的点检仪系统包括控制MCU芯片(2)、源MCU芯片(6)、信号发生器(7)、校准接口(3)、D/A电路、A/D电路、AT组态(5)、放大电路、上位机(1)以及用于提供电能的电源，上位机(1)的输出端与控制MCU芯片(2)的输入端相连接，控制MCU芯片(2)的电压输出端及电流输出端依次经D/A电路、放大电路及校准接口(3)后分别与待测模块(4)的电压输入端及电流输入端相连接，待测模块(4)的电压输出端及电流输出端通过A/D电路分别与控制MCU芯片(2)的电压输入端及电流输入端相连接，控制MCU芯片(2)的电压输出端与电流输出端与AT组态(5)的输入端相连接，AT组态(5)的输出端与上位机(1)的输入端相连接，控制MCU芯片(2)的第一开关控制端与待测模块(4)的控制端相连接，控制MCU芯片(2)的第二开关控制端与源MCU芯片(6)的控制端相连接，源MCU芯片(6)的输出端与信号发生器(7)的控制端相连接，信号发生器(7)的输出端与待测模块(4)的信号输入端相连接，待测模块(4)的信号输出端与源MCU芯片(6)的信号输入端相连接，源MCU芯片(6)的数据输出端通过控制MCU芯片(2)与上位机(1)的输入端相连接；包括以下步骤：1)所述上位机(1)产生控制信号，将所述控制信号输入到控制MCU芯片(2)中，控制MCU芯片(2)根据所述控制信号产生电压信号、电流信号、开关量信号及开关控制信号；2)所述控制MCU芯片(2)将产生的开关量信号输入到待测模块(4)中，待测模块(4)接收所述开关量信号，并正常工作；3)所述控制MCU芯片(2)产生的电压信号及电流信号经D/A电路转换、放大电路放大及校准接口(3)校准后输入到待测模块(4)中，待测模块(4)响应校准后的电压信号及电流信号，并分别产生第一响应信号及第二响应信号，第一响应信号及第二响应信号经A/D电路转换后输入到控制MCU芯片(2)中，控制MCU芯片(2)将所述第一响应信号及第二响应信号转换为AT组态(5)所需的类型后输入到AT组态(5)中，AT组态(5)根据第一响应信号及第二响应信号判断待测模块(4)的输出电压及输出电流是否正常，并根据判断结果产生第一状态信号及第二状态信号，然后将所述第一状态信号及第二状态信号输入到上位机(1)中；4)所述控制MCU芯片(2)将产生的开关控制信号输入到源MCU芯片(6)中，使源MCU芯片(6)正常工作，源MCU芯片(6)产生时钟信号，并将所述时钟信号输入到信号发生器(7)中，信号发生器(7)根据所述时钟信号产生第一正弦波信号，并将所述第一正弦波信号输入到待测模块(4)中，待测模块(4)产生第二正弦波信号，并将所述第二正弦波信号输入到源MCU芯片(6)中，源MCU芯片(6)接收所述第二正弦波信号，再检测待测模块(4)产生的第二正弦波信号的频率，并将第二正弦波信号的频率值通过控制MCU芯片(2)传输给上位机(1)；5)所述上位机(1)接收第一状态信号、第二状态信号及第二正弦波信号的频率值，并显示所述第一状态信号、第二状态信号及第二正弦波信号的频率值。