发明名称 |
ケミカルメカニカルポリッシング組成物及びゲルマニウム−アンチモン−テルル合金を研磨する方法 |
摘要 |
A method for chemical mechanical polishing of a substrate comprising a germanium-antimony-tellurium chalcogenide phase change alloy (GST) using a chemical mechanical polishing composition consisting essentially of, as initial components: water; an abrasive; a material selected from ethylene diamine tetra acetic acid and salts thereof; and an oxidizing agent; wherein the chemical mechanical polishing composition facilitates a high GST removal rate with low defectivity. |
申请公布号 |
JP5947611(B2) |
申请公布日期 |
2016.07.06 |
申请号 |
JP20120098807 |
申请日期 |
2012.04.24 |
申请人 |
ローム アンド ハース エレクトロニック マテリアルズ シーエムピー ホウルディングス インコーポレイテッド |
发明人 |
ジェソク・イ;イ・グォ;カンチャーラ−アルン・クマール・レディ;グアンユン・ツァン |
分类号 |
H01L21/304;B24B37/00;B24B37/24;C09K3/14 |
主分类号 |
H01L21/304 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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