发明名称 一种可测量AFM力学参数的纳米探针制备方法
摘要 本发明提供一种可测量AFM力学参数的纳米探针制备方法,制备纳米探针所需产品包括:无针尖微悬臂探针、直径为2-5um或5um-10um的微球、环氧乙烷树脂胶、专用调拌刀具、带有精确刻度的标准载玻片或者SEM、生物型AFM带有光学显微镜及成像系统;微悬臂的纳米探针和生物型AFM联用。该纳米探针制备方法无需每次成像完之后更换针尖、校准激光,再更换带微球的针去测量力学参数的步骤,使操作简单,使测量的力学参数更加准确。
申请公布号 CN103389392B 申请公布日期 2016.06.29
申请号 CN201310315177.6 申请日期 2013.07.25
申请人 兰州大学 发明人 张宝平;王记增;刘斌;刘英杰;姚成福;周又和
分类号 G01Q60/38(2010.01)I 主分类号 G01Q60/38(2010.01)I
代理机构 北京中恒高博知识产权代理有限公司 11249 代理人 姜万林
主权项 一种可测量AFM 力学参数的纳米探针制备方法,其特征在于,制备纳米探针所需产品包括:微悬臂探针、直径为2‑5µm的微球、环氧乙烷树脂胶、专用调拌刀具、带有精确刻度的标准载玻片、带有光学显微镜及成像系统的生物型AFM;所述微悬臂探针和生物型AFM联用;所述探针制备方法的步骤如下:A、将微悬臂探针置入AFM,按正常操作步骤调定并聚焦激光光斑,其对准在即将粘固微球的区域;B、待调定激光并聚焦后,获得合适的Sum ,使激光光斑聚焦至四象限中心,撤退步进电机以及针头,放置标准载玻片以及微球;C、将微球预先铺在干净的标准载玻片的一侧区域内,并取下AFM扫描头,放置呈有微球的标准载玻片置AFM样品台固定,并利用CCD观察所铺微球的形态,大小以及均匀度;D.在AFM显微镜下,以AFM 微悬臂实施微操作推动微球小范围移动至标准载玻片的标定区域,从而确定所测微球的直径,完成操作后,将微球备用;E.重新放上之前铺有已知尺寸规格微球的标准载玻片, 将该标准载玻片置于AFM 样品台固定,准备操作;F.推进AFM 步进电机至探针接近标准载玻片上的微球表面,在AFM自带的CCD辅助下再次细致观察并选择所要微操作区域的微球,并用微标记笔作微记号,将某区域选作操作区;G.撤步进电机,抬针,取下标准载玻片,妥善放置备用;另取一块干净的载玻片用于调和环氧树脂胶,将环氧树脂的两种糊剂成分按1:1等体积混合后,迅速调拌均匀;H.调和均匀后,取少许胶,置于有微球的区域的近旁;I.固定标准载玻片,驱动马达推进步进电机,下针;G. 开启驱动马达推进步进电机,准备蘸胶于微悬臂;K.下针至微悬臂轻接触胶后,轻微蘸到少许胶后,不抬针向相反方向拖动微悬臂抹去多余的胶;L.遂抬针,手调AFM样品台移至已作好标记的微球区域,将位置正好调定在微悬臂尖端位置中心处,下针,直至接触到微球的上面,停滞30s‑1min;M.上抬针尖及微球,至步进电机向上方回撤50µm,制动,等待环氧树脂完全固化。
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