发明名称 一种带有环境反馈的自动干涉检测系统及方法
摘要 本发明公开了一种带有环境反馈的自动干涉检测系统及方法,自动干涉检测系统包括了独立地基,第一振动测量探头,主动隔振系统,大理石平台,第二振动测量探头,第三振动测量探头,调整架,转台,待测镜架,第四振动测量探头,第一导轨,第二导轨,干涉仪衍架,温度测量探头,外壳,干涉仪测量头,第五振动测量头,计算机组成。第一振动测量探头用于测量地面垂直振动,第二振动测量探头用于测量水平振动,第三振动测量探头用于测量平台台面垂直振动,第四振动测量探头用于测量待测镜架上振动,第五振动测量探头用于测量干涉仪测量头上垂直振动,温度测量探头用于测量干涉仪测量头和待测镜架之间的温度。
申请公布号 CN103499309B 申请公布日期 2016.04.27
申请号 CN201310473266.3 申请日期 2013.10.11
申请人 中国科学院光电技术研究所 发明人 贾辛;徐富超;谢伟民;邢廷文
分类号 G01B11/24(2006.01)I 主分类号 G01B11/24(2006.01)I
代理机构 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人 杨学明;顾炜
主权项 一种带有环境反馈的自动干涉检测系统,其特征在于,包括:独立地基(1)、第一振动测量探头(2)、主动隔振系统(3)、大理石平台(4)、第二振动测量探头(5)、调整架(6)、第三振动测量探头(7)、转台(8)、待测镜架(9)、第四振动测量探头(10)、第一导轨(11)、第二导轨(12)、干涉仪衍架(13)、温度测量探头(14)、外壳(15)、干涉仪测量头(16)、第五振动测量头(17)和计算机(18);其中:独立地基(1)上放置主动隔振系统(3)和第一振动测量探头(2);主动隔振系统(3)上放置大理石平台(4),大理石平台(4)上面放置调整架(6),第二振动测量探头(5)放置在大理石平台(4)侧面;调整架(6)上方放置转台(8),第三振动测量探头(7)放置在大理石平台(4)台面上;待测镜架(9)放置在转台(8)上,第四振动测量探头(10)放置在待测镜架(9)边上,干涉仪衍架(13)固定在大理石平台(4)上,第一导轨(11)固定在干涉仪衍架(13)一侧,第二导轨(12)固定在第一导轨(11)上,温度测量探头(14)固定在第二导轨(12)上,外壳(15)固定在大理石平台(4)上,第二振动测量探头(5)、调整架(6)、第三振动测量探头(7)、转台(8)、待测镜架(9)、第四振动测量探头(10)、第一导轨(11)、第二导轨(12)、干涉仪衍架(13)、温度测量探头(14)、干涉仪测量头(16)和第五振动测量头(17)均在外壳(15)内,干涉仪测量头(16)固定在干涉仪衍架(13)上,第五振动测量探头(17)固定在干涉仪测量头(16)边上,计算机(18)与主动隔振系统(3)、第一振动测量探头(2)、第二振动测量探头(5)、第三振动测量探头(7)、第四振动测量探头(10)、第五振动测量探头(17)、温度测量探头(14)、调整架(6)、转台(8)、第一导轨(11)、第二导轨(12)、干涉仪测量头(16)相连;独立地基(1):用于隔离地面振动;第一振动测量探头(2):用于测量地面垂直振动;主动隔振系统(3):用于进一步隔离地面振动;大理石平台(4):用于放置各种测量设备及配件;第二振动测量探头(5):用于测量大理石平台水平振动;调整架(6):用于调整待测镜架(9)的状态;第三振动测量探头(7):用于测量大理石平台台面垂直振动;转台(8):用于转动待测镜架(9);待测镜架(9):用于放置待测镜;第四振动测量探头(10):用于测量待测镜架上的垂直振动;第一导轨(11):用于控制温度测量探头(14)的垂直方向移动;第二导轨(12):固定在第一导轨(11)上,用于控制温度测量探头(14)的水平方向移动;干涉仪衍架(13),用于固定干涉仪测量头(16)和第一导轨(11);温度测量探头(14),用于测量干涉仪测量头(16)和待测镜架(9)之间的温度变化;外壳(15):用于保持壳内的温度和气流的稳定;干涉仪测量头(16),用于干涉测量待测镜面形;第五振动测量探头(17),用于测量干涉仪测量头(16)上的垂直振动;计算机(18):与主动隔振系统(3)、第一振动测量探头(2)、第二振动测量探头(5)、第三振动测量探头(7)、第四振动测量探头(10)、第五振动测量探头(17)、温度测量探头(14)、调整架(6)、转台(8)、第一导轨(11)、第二导轨(12)相连,控制这些设备的运动或进行数据传输;所述第一振动测量探头(2)、所述第二振动测量探头(5)、所述第三振动测量探头(7)、所述第四振动测量探头(10)和第五振动测量探头(17)均为加速度计或位移计,并均通过计算机(18)进行数据输出。
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