发明名称 | 双模折反射式共探测器成像系统 | ||
摘要 | 双模折反射式共探测器成像系统属于光学技术领域,该系统包括:主镜、次镜、中继镜组和焦平面探测器;所有部件皆为同光轴放置;其中,主镜和次镜为卡塞格林结构;主镜有中心孔,次镜放置在主镜的前方,中继镜组和焦平面探测器放置在次镜后方;次镜为曼金镜,其前表面反射中波红外,透射长波红外;后表面反射长波红外;次镜两个反射面的设置使得中波红外和长波红外的光程相等,以使得中波红外和长波红外在不调焦的情况下成像在同一焦平面上。该系统可以实现双波段工作,长焦距、大相对孔径成像,结构紧凑,畸变小,传递函数达到或接近衍射极限,冷阑匹配达到100%。 | ||
申请公布号 | CN103345051B | 申请公布日期 | 2016.03.02 |
申请号 | CN201310275716.8 | 申请日期 | 2013.07.02 |
申请人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明人 | 付强;张新;史广维;王灵杰;张建萍 |
分类号 | G02B17/08(2006.01)I | 主分类号 | G02B17/08(2006.01)I |
代理机构 | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人 | 张伟 |
主权项 | 双模折反射式共探测器成像系统,其特征在于,该系统包括:主镜、次镜、中继镜组和焦平面探测器;所有部件皆为同光轴放置;其中,主镜和次镜为卡塞格林结构;主镜有中心孔,次镜放置在主镜的前方,中继镜组和焦平面探测器放置在次镜后方;来自物方的光束经主镜反射后入射到次镜上,由次镜反射聚焦,使得目标成像在第一像面上;再由中继镜组将第一像面上的目标转像,通过焦平面探测器聚焦;次镜前表面反射中波红外,透射长波红外;后表面反射长波红外;长波红外再次通过前表面回到光路中;所述中继镜组由沿同一光轴顺序放置的第一折射透镜、第二折射透镜、第三折射透镜和第四折射透镜组成;所述第一折射透镜基于Ge晶体材料,其前表面为球面,后表面为非球面;第二折射透镜基于ZNS晶体材料,其前表面和后表面均为球面;第三折射透镜基于BaF<sub>2</sub>晶体材料,其前表面和后表面均为球面;第四折射透镜基于ZnSe晶体材料,其前表面为非球面,后表面为球面。 | ||
地址 | 130000 吉林省长春市东南湖大路3888号 |