发明名称 相位调制微波光链路噪声系数测量方法
摘要 本发明提供一种相位调制微波光链路噪声系数测量方法,直接测量输出噪声功率谱密度,从而计算出噪声系数。本发明结构简单,测量准确率高。
申请公布号 CN105281830A 申请公布日期 2016.01.27
申请号 CN201510672850.0 申请日期 2015.10.15
申请人 金陵科技学院 发明人 叶全意;高英杰
分类号 H04B10/079(2013.01)I;H04B17/345(2015.01)I 主分类号 H04B10/079(2013.01)I
代理机构 南京钟山专利代理有限公司 32252 代理人 戴朝荣
主权项 一种相位调制微波光链路噪声系数测量方法,其特征在于,直接测量输出噪声功率谱密度,从而计算出噪声系数。
地址 211169 江苏省南京市江宁区弘景大道99号