发明名称 |
ESD保護用半導体デバイス |
摘要 |
静電放電保護のための半導体デバイスは、基板と、該基板内に形成された第1のウェル及び第2のウェルとを含む。第1及び第2のウェルは、横並びに形成されて界面にて交わり、それぞれ第1の導電型及び第2の導電型を有する。第1の高濃度ドープ領域及び第2の高濃度ドープ領域が第1のウェルに形成される。第3の高濃度ドープ領域及び第4の高濃度ドープ領域が第2のウェルに形成される。第1、第2、第3、及び第4の高濃度ドープ領域が、それぞれ、第1の導電型、第2の導電型、第2の導電型、及び第1の導電型を有する。第1及び第2の高濃度ドープ領域の位置は、界面に平行な方向に沿って交互に配置される。【選択図】図1A |
申请公布号 |
JP2015536564(A) |
申请公布日期 |
2015.12.21 |
申请号 |
JP20150537101 |
申请日期 |
2012.10.22 |
申请人 |
シーエスエムシー テクノロジーズ エフエイビー1 カンパニー リミテッド |
发明人 |
リン ジョンユ;ダイ メン;フー ヨンハイ |
分类号 |
H01L21/329;H01L21/822;H01L27/04;H01L27/06;H01L29/861;H01L29/87 |
主分类号 |
H01L21/329 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|