发明名称 紧缩场天线测量系统
摘要 一种紧缩场天线测量系统包括设置于所述微波暗室内的馈源;所述紧缩场天线测量系统还包括由多片超材料层叠加形成的一平面波生成单元,每一片超材料层包括基材以及设置在基材上的多个人造孔微结构,所述馈源产生的电磁波穿过所述平面波生成单元后转换成平面电磁波。采用超材料制成的平面波生成单元代替现有技术中的反射面,根据测试要求计算机仿真面波生成单元折射特性,使所述馈源产生的电磁波经所述平面波生成单元折射后,在所述天线测试转台上提供一个性能优良的准平面波测试区。因此省略了制造高精度的反射面及高难度的加工艺;大大降低了紧缩场天线测量系统造价成本。
申请公布号 CN102749529B 申请公布日期 2015.12.16
申请号 CN201110099621.6 申请日期 2011.04.20
申请人 深圳光启高等理工研究院;深圳光启创新技术有限公司 发明人 刘若鹏;徐冠雄;张洋洋;赵治亚
分类号 G01R29/08(2006.01)I;G01R29/10(2006.01)I 主分类号 G01R29/08(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种紧缩场天线测量系统,包括微波暗室、设置于所述微波暗室内的馈源和天线测试转台;其特征在于,所述紧缩场天线测量系统还包括由多片超材料层叠加形成的一平面波生成单元,所述平面波生成单元设置于所述馈源与天线测试转台之间,每一片超材料层包括基材以及设置在基材上的多个人造孔微结构,所述馈源产生的电磁波穿过所述平面波生成单元后在所述天线测试转台上提供一个平面电磁波,所述平面波生成单元的中心轴处的折射率为n<sub>1</sub>,以所述中心轴与所述平面波生成单元的交点为圆心,随着半径的逐渐增加折射率逐渐变小,而且随着半径的增大,折射率的变化量逐渐增大,其中n<sub>1</sub>>n<sub>2</sub>>n<sub>3</sub>>...>n<sub>p</sub>,(n<sub>m</sub>‑n<sub>m‑1</sub>)>(n<sub>m‑1</sub>‑n<sub>m‑2</sub>),m为大于3小于等于p的自然数。
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