一种介电超晶格材料周期测量仪及其使用方法

摘要

本发明公开了一种介电超晶格材料周期测量仪，包括激光光源、屏幕和刻度装置，待测介电超晶格材料放置于激光光源和刻度装置之间，所述激光光源垂直于待测介电超晶格材料表面，所述屏幕平行于待测介电超晶格材料表面，所述刻度装置置于屏幕上。本发明采用光栅衍射原理，使用激光对介电体超晶格材料表面照射，通过检测透过的衍射点来判定材料周期。本发明装置简单，操作方便快捷，且准确度高。

主权项

一种介电超晶格材料周期测量仪，其特征在于：包括激光光源(1)、屏幕(7)和刻度装置(3)，待测介电超晶格材料放置于激光光源(1)和刻度装置(3)之间，所述激光光源(1)垂直于待测介电超晶格材料表面，所述屏幕(7)平行于待测介电超晶格材料表面，所述刻度装置(3)置于屏幕(7)上；所述刻度装置(3)包含标准标尺轴和对应级数标尺轴，所述标准标尺轴上刻有标准刻度，所述对应级数标尺轴按照如下方法标注：设定波长为λ、刻度装置(3)与待测介电超晶格材料之间的距离为D时，基于公式取衍射条纹级数N＝1、3、5、7，分别对应制作4个对应级数标尺轴，利用标准标尺轴测量对应级数的衍射条纹与刻度装置的零点之间的距离为x，不断改变x的大小，在每个对应级数标尺轴上按照上述公式计算得到每个x对应的周期d，并在对应级数标尺轴上的x处注明该处对应的周期d。