发明名称 一种用于小样品硬质薄片研磨抛光的装置
摘要 本发明公开了一种用于小样品硬质薄片研磨抛光的装置,包括修盘环和载样盘,所述的修盘环表面设置有多个固定孔,所述的固定孔在所述修盘环表面呈中心对称分布,或者其中一个固定孔设置于修盘环的中心,剩余的固定孔呈中心对称分布,修盘环上的固定孔根据所需研磨抛光样品尺寸制造;所述的修盘环的底部设置有外径小于修盘环底部的凹槽,在修盘环底部的四周设置有若干排液槽。本发明可以研磨抛光单个小样品或同时研磨抛光多个小样品,同时保证了研磨精度,避免样品变形影响抛光质量,当研磨抛光硬度较大的样品时可以使用增重体用来提高研磨效率和质量。
申请公布号 CN105081962A 申请公布日期 2015.11.25
申请号 CN201510406801.2 申请日期 2015.07.10
申请人 河海大学 发明人 张建峰;李柏涛;吴玉萍;李改叶;张欣;郭文敏;曹慧杨
分类号 B24B37/30(2012.01)I 主分类号 B24B37/30(2012.01)I
代理机构 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人 黄天天
主权项 一种用于小样品硬质薄片研磨抛光的装置,包括修盘环和载样盘,其特征在于,所述的修盘环表面设置有多个固定孔,所述的固定孔在所述修盘环表面呈中心对称分布,或者其中一个固定孔设置于修盘环的中心,剩余的固定孔呈中心对称分布;所述的修盘环的底部设置有外径小于修盘环底部的凹槽,在修盘环底部的四周设置有若干排液槽;所述的载样盘包括相互连接的载样体和连接体,所述的载样盘与所述修盘环的固定孔保持间隙配合。
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