发明名称 |
用于大畸变图像采集系统的预畸变测试卡成型系统 |
摘要 |
本实用新型公开了一种用于大畸变图像采集系统的预畸变测试卡成型系统,包括畸变测试装置、反向形变装置及标的物成型装置,畸变测试装置与大畸变图像采集系统连接,用于测量大畸变图像采集系统的畸变量,反向形变装置与畸变测试装置连接,用于根据畸变量对测试标的物反向形变传统的测试标的物,标的物成型装置与反向形变装置连接,用于根据反向形变的测试标的物制作预畸变测试卡,预畸变测试卡经大畸变图像采集系统拍摄成的图像可直接进行数据处理分析。与现有技术相比,通过本实用新型得到的预畸变测试卡抵消了大畸变图像采集系统自带的畸变量,从而可以直接对预畸变测试卡的图像进行分析,简化了分析过程、提高了分析准确度。 |
申请公布号 |
CN204795439U |
申请公布日期 |
2015.11.18 |
申请号 |
CN201520515197.2 |
申请日期 |
2015.07.15 |
申请人 |
深圳市明宇通检测有限公司 |
发明人 |
翟小鹏;姚学文 |
分类号 |
H04N17/00(2006.01)I |
主分类号 |
H04N17/00(2006.01)I |
代理机构 |
广州科粤专利商标代理有限公司 44001 |
代理人 |
王少强;黄培智 |
主权项 |
一种用于大畸变图像采集系统的预畸变测试卡成型系统,其特征在于,包括:畸变测试装置,与大畸变图像采集系统连接,用于测量所述大畸变图像采集系统所采集画面的畸变量;反向形变装置,与所述畸变测试装置连接,用于根据所述畸变量反向形变传统的测试标的物;以及标的物成型装置,与所述反向形变装置连接,用于根据反向形变的所述测试标的物制作预畸变测试卡,所述预畸变测试卡用于经所述大畸变图像采集系统拍摄成可直接进行数据处理分析的图像。 |
地址 |
518000 广东省深圳市南山区高新园北区科苑北天元综合楼4号厂房5楼西 |