电子元件检测分选之搬送方法及装置

摘要

本发明系一种电子元件检测分选之搬送方法及装置，主要使待测元件被输送槽道以第一搬送路径从输送口送出时，维持一第一置设方向；及使待测元件在维持一第一置设方向下，被以垂直第一搬送路径方向的第二搬送路径被移送，而自一开口进入一测盘之容置空间；或在被输送槽道以第一搬送路径从输送口送出时进行转向；使进行上侧发光(Top view)及侧面发光(Side view)之发光二极体检测时，可以共用相同的搬送方法及装置者。