一种用于超声成像检测仪器的优化锯齿覆盖扫查装置及方法

摘要

本发明公开了一种用于超声成像检测仪器的优化锯齿覆盖扫查装置及方法，所述装置包括三维智能扫查器，该三维智能扫查器具有三个方向的扫查；所述方法包括：对待扫查区域进行垂直定位及声速聚焦；对待扫查区域锯齿或优化锯齿覆盖的扫查。本发明具有简单全覆盖路径规划算法和简单变密度随机采样策略的功能。该扫查方法首先对待覆盖区域进行粗扫，发现缺陷区域后进行细扫，对疑似缺陷区域进行微扫，同时在数据采集和存储的过程中，只对缺陷区域进行处理，而对非缺陷区域用背景区域代替。通过将此方法应用于超声成像检测系统中的扫查器中，可大大提高了扫查速度、减少了数据采集存储的空间，提高了成像的速度。

主权项

一种用于超声成像检测仪器的优化锯齿覆盖扫查装置，其特征在于，所述装置包括三维智能扫查器，该三维智能扫查器具有三个方向的扫查，其中，Z方向扫查，用于对待扫查区域进行垂直定位及声速聚焦；X方向和Y方向扫查，用于对待扫查区域优化锯齿覆盖的扫查；对待扫查区域进行不完整的锯齿扫查，并通过不完整的锯齿扫查获取超声回波信号及对获取的超声回波信号是否存在缺陷进行判断；对所述超声回波信号是否存在缺陷的判断是在扫查过程中采用相邻回波差求解L0的范数来判断；通过判断超声回波信号存在缺陷与不存在缺陷来划分待扫查区域中的缺陷区域和非缺陷区域，并对缺陷区域进行采样扫查，对非缺陷区域进行超欠采样扫查或不扫查。