发明名称 热红外光谱成像系统装校装置及装校方法
摘要 本发明公开了一种基于面阵探测器的热红外光谱成像系统的装校方法。根据镀热红外增透膜的透镜表面对可见光有较强的反射,提出一种借助于黑体、狭缝对、辅助平面镜、精密转台、内调焦望远镜和平行光管等辅助物件而实现的装校方法。将黑体与狭缝对置于平行光管焦面处模拟无穷远辐射,观察其狭缝对在探测器光敏面上的像的清晰程度来确定各镜头和元件的相对位置。本发明的装校方法可有效解决热红外光谱成像系统无法通过目视或其它常用光学仪器进行光学装校的问题,使该类系统装校周期缩短,可重复性强。
申请公布号 CN101520343A 申请公布日期 2009.09.02
申请号 CN200910048171.0 申请日期 2009.03.25
申请人 中国科学院上海技术物理研究所 发明人 袁立银;林颖;王建宇;徐卫明;舒嵘
分类号 G01J5/10(2006.01)I 主分类号 G01J5/10(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 代理人 郭 英
主权项 1. 一种热红外光谱成像系统的装校装置,它包括精密转台(1)、平行光管载物台(2)、黑体(3)、狭缝对(4)、平行光管(5)、辅助平面镜(7)和内调焦望远镜(8),其特征在于:精密转台(1)置于平行光管(5)出光管口的前方,待装校的热红外成像光谱仪放在精密转台(1)上,黑体(3)和狭缝对(4)放置在位于平行光管(5)焦面处的平行光管载物台(2)上,狭缝对(4)置于黑体(3)前,狭缝对(4)位于平行光管5焦面上,作为光轴辅助基准的内调焦望远镜(8)安置在待装校的热红外成像光谱仪旁边,辅助平面镜(7)用来调整前组望远镜的光轴和光栅座(6-4)的角度。
地址 200083上海市玉田路500号