测试装置、测试方法以及电子元件

摘要

本发明提供一种测试待测元件的测试装置。此测试装置可以(i)从主测试指令序列中顺次读取并执行指令，且输出(I)跟所执行的指令有关的测试图型以及(Ⅱ)指示测试图型之输出时序之组合的时序集资讯，(ii)当执行次常式呼叫指令时，则从所执行的次常式呼叫指令所指示的子测试指令序列中顺次读取并执行指令，且输出(1)跟所执行的指令有关的测试图型以及(2)跟次常式呼叫指令有关的测试图型的时序集资讯，或主测试指令序列中的跟位于次常式呼叫指令之前的指令有关的测试图型的时序集资讯。

主权项

一种测试待测元件的测试装置，包括：主指令储存部件，用来储存主测试指令序列；子指令储存部件，用来储存子测试指令序列，所述子测试指令序列是在执行所述主测试指令序列中的次常式呼叫指令时执行的；图型产生部件，其包括：从所述主测试指令序列中顺次读取并执行指令，且从所述主测试指令序列中输出跟所执行的指令有关的测试图型与指示所述测试图型之输出时序之组合的时序集资讯；以及测试讯号输出部件，根据所述测试图型来产生测试讯号，且在所述时序集资讯所指示的时序将所述测试讯号提供给所述待测元件；其中当在执行所述主测试指令序列中的次常式呼叫指令时，则所述图型产生部件从所述次常式呼叫指令所指示的所述子测试指令序列中顺次读取并执行指令，且从所述子测试指令序列输出跟所执行的指令有关的测试图型，以及输出跟所述次常式呼叫指令有关的测试图型的时序集资讯或是所述主测试指令序列中的跟位于所述次常式呼叫指令之前的指令有关的测试图型的时序集资讯。如申请专利范围第1项所述之测试待测元件的测试装置，其中当设定继承模式来表示继承所述时序集资讯时，则所述图型产生部件输出跟所述次常式呼叫指令有关的所述测试图型的所述时序集资讯，或输出所述主测试指令序列中的跟所述次常式呼叫指令之前执行的所述指令有关的所述测试图型的所述时序集资讯，而不是输出跟所述子测试指令序列中的每条指令有关的测试图型的时序集资讯。如申请专利范围第1项所述之测试待测元件的测试装置，其中所述图型产生部件输出所述主测试指令序列中的所述次常式呼叫指令所指示的时序集资讯。如申请专利范围第1项所述之测试待测元件的测试装置，更包括图型产生演算法储存部件，用来储存图型产生演算法，所述图型产生演算法是在执行所述主测试指令序列中的演算法呼叫指令时执行的，其中当在执行所述主测试指令序列中的所述演算法呼叫指令时，则所述图型产生部件读取所述演算法呼叫指令所指示的所述图型产生演算法，且输出根据所读取的所述图型产生演算法而产生的测试图型，以及输出跟所述演算法呼叫指令有关的测试图型的时序集资讯或是所述主测试指令序列中的跟位于所述演算法呼叫指令之前的指令有关的测试图型的时序集资讯。如申请专利范围第4项所述之测试待测元件的测试装置，其中当设定继承模式来表示继承所述时序集资讯时，则所述图型产生部件输出跟所述演算法呼叫指令有关的测试图型的时序集资讯，或是输出所述主测试指令序列中的跟所述演算法呼叫指令之前执行的指令有关的测试图型的时序集资讯，而不是输出根据所述图型产生演算法而产生的所述测试图型的时序集资讯。一种测试待测元件的测试装置，包括：主指令储存部件，用来储存主测试指令序列；图型产生演算法储存部件，用来储存图型产生演算法，所述图型产生演算法是在执行所述主测试指令序列中的演算法呼叫指令时执行的；图型产生部件，其包括：从所述主测试指令序列中顺次读取并执行指令，且输出跟所执行的指令有关的测试图型与指示所述测试图型之输出时序之组合的时序集资讯；以及测试讯号输出部件，根据所述测试图型来产生测试讯号，且在所述时序集资讯所指示的时序将所述测试讯号提供给所述待测元件；其中当在执行所述主测试指令序列中的演算法呼叫指令时，则所述图型产生部件读取所述演算法呼叫指令所指示的所述图型产生演算法，且输出根据所读取的所述图型产生演算法而产生的测试图型，以及输出跟所述演算法呼叫指令有关的测试图型的时序集资讯或是所述主测试指令序列中的跟位于所述演算法呼叫指令之前的指令有关的测试图型的时序集资讯。一种电子元件，包括：待测电路；以及测试电路，用来测试所述待测电路，其中所述测试电路包括：主指令储存部件，用来储存主测试指令序列；子指令储存部件，用来储存子测试指令序列，所述子测试指令序列是在执行所述主测试指令序列中之次常式呼叫指令时执行的；图型产生部件，其包括：从所述主测试指令序列中顺次读取并执行指令，且输出跟所执行的指令有关的测试图型与指示所述测试图型之输出时序之组合的时序集资讯；以及测试讯号输出部件，根据所述测试图型来产生测试讯号，且在所述时序集资讯所指示的时序将所述测试讯号提供给所述待测电路；其中当在执行所述主测试指令序列中的次常式呼叫指令时，则所述图型产生部件从所述次常式呼叫指令所指示的所述子测试指令序列中顺次读取并执行指令，且从所述子测试指令序列输出跟所执行的指令有关的测试图型，以及输出跟所述次常式呼叫指令有关的测试图型的时序集资讯或是所述主测试指令序列中的跟位于所述次常式呼叫指令之前的指令有关的测试图型的时序集资讯。一种电子元件，包括：待测电路；以及测试电路，用来测试所述待测电路，其中所述测试电路包括：主指令储存部件，用来储存主测试指令序列；图型产生演算法储存部件，用来储存图型产生演算法，所述图型产生演算法是在执行所述主测试指令序列中之演算法呼叫指令时执行的；图型产生部件，其包括：从所述主测试指令序列中顺次读取并执行指令，且输出跟所执行的指令有关的测试图型与指示所述测试图型之输出时序之组合的时序集资讯；以及测试讯号输出部件，根据所述测试图型来产生测试讯号，且在所述时序集资讯所指示的时序将所述测试讯号提供给所述待测电路；其中当在执行所述主测试指令序列中的演算法呼叫指令时，则所述图型产生部件读取所述演算法呼叫指令所指示的所述图型产生演算法，且输出根据所读取的所述图型产生演算法而产生的测试图型，以及输出跟所述演算法呼叫指令有关的测试图型的时序集资讯或是所述主测试指令序列中的跟位于所述演算法呼叫指令之前的指令有关的测试图型的时序集资讯。一种测试待测元件的测试方法，包括：提供一测试装置，所述测试装置包括主指令储存部件、子指令储存部件、图型产生部件以及测试讯号输出部件，其中所述主指令储存部件用来储存主测试指令序列，所述子指令储存部件用来储存子测试指令序列，而所述子测试指令序列是在执行所述主测试指令序列中的次常式呼叫指令时执行的；利用所述图型产生部件而从所述主测试指令序列中顺次读取并执行指令，且从所述主测试指令序列中输出跟所执行的指令有关的测试图型与指示所述测试图型之输出时序之组合的时序集资讯；当在执行所述主测试指令序列中的次常式呼叫指令时，则所述图型产生部件从所述次常式呼叫指令所指示的所述子测试指令序列中顺次读取并执行指令，且从所述子测试指令序列输出跟所执行的指令有关的测试图型，以及输出跟所述次常式呼叫指令有关的测试图型的时序集资讯或是所述主测试指令序列中的跟位于所述次常式呼叫指令之前的指令有关的测试图型的时序集资讯；以及利用所述测试讯号输出部件而根据所述测试图型来产生测试讯号，且在所述时序集资讯所指示的时序将所述试讯号提供给所述待测元件。