发明名称 一种光电子器件的光学参数检测装置与方法
摘要 本发明公开了一种光电子器件的光学参数检测装置和方法,该检测装置的两台2×N光开关布置在试验箱旁,并通过光纤与放置在试验箱中的光电子器件样品相联,另外一侧光路通过2×2光开关与偏振控制器相联和光功率计相联;1×N光开关通波分复用器与宽带光源,再通过光耦合器与偏振控制器、回损仪相联。本发明采用多波长光源,提高了该装置多波长光学参数测试的能力,降低了测试设备的成本;采用2×N光开关和光纤终止器构造回损测试光路,实现样品回损的在线测量;实现光电子器件双向光学参数的自动化检测,提高了光学参数测试效率和一致性;计算机实时记录试验箱、光功率计、回损仪的数据,实现光学参数测量的自动化。
申请公布号 CN103364179B 申请公布日期 2015.09.23
申请号 CN201310302142.9 申请日期 2013.07.18
申请人 湖南师范大学 发明人 阳波;李彦文;唐文胜;王胜春;尹丹;杨林
分类号 G01M11/02(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01M11/02(2006.01)I
代理机构 长沙新裕知识产权代理有限公司 43210 代理人 赵登高
主权项 一种光电子器件的光学参数检测装置,包括试验箱(1)、偏振控制器(5)、光耦合器(6)、光功率计(12)、光纤(15)、光纤终止器(13),其特征在于:试验箱(1)两旁分别布置一台2×N光开关(3),试验样品(2)通过光纤(15)与两台2×N光开关(3)的端口相连;还包括2×2光开关(4)、控制器(14)、电路(16),计算机(17)、回损仪(8),以及由波分复用器(9)、宽带光源(10)、1×N光开关(7)、单色波激光光源(11)构成的多波长选择光源;所述计算机(17)通过电学接口,由电路(16)与试验箱(1)、回损仪(8)和光功率计(12)相联;所述控制器(14)分别与计算机(17)、2×N光开关(3)、2×2光开关(4)、偏振控制器(5)相联;所述2×N光开关(3)通过串联的2×2光开关(4)、偏振控制器(5)、光耦合器(6),最终与回损仪(8)相联; 所述光耦合器(6)的一个端口与回损仪(8)相联,另外一个端口与1×N光开关(7)相联;所述2×2光开关(4)分别与2×N光开关(3)以及偏振控制器(5)和光功率计(12)相联;所述2×N光开关(3)的其中一个端口连接一个光纤终止器(13)。
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