发明名称 磁记录介质用铝基板
摘要 本发明的磁记录介质用铝基板为成膜有厚度6μm以上的SiO<sub>2</sub>膜的铝基板,其特征在于,前述SiO<sub>2</sub>膜是将前述铝基板加热至150℃~370℃并利用气相成膜法而成膜的。
申请公布号 CN104885155A 申请公布日期 2015.09.02
申请号 CN201380068291.1 申请日期 2013.12.11
申请人 株式会社神户制钢所 发明人 铃木哲雄;藤原直也;平野贵之
分类号 G11B5/73(2006.01)I;G11B5/84(2006.01)I 主分类号 G11B5/73(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 高旭轶;刘力
主权项  磁记录介质用铝基板,其为成膜有厚度6.0μm以上的SiO<sub>2</sub>膜的铝基板,其特征在于,所述SiO膜是将所述铝基板加热至150℃~370℃并利用气相成膜法而成膜的。
地址 日本兵库县神户市