具备施加恶劣条件结构的用于检测存储器封装的固定夹具

摘要

本发明涉及一种具备施加恶劣条件结构的用于检测存储器封装的固定夹具，其目的在于，利用固定夹具将存储器封装固定在扩展卡的表面之后，对存储器封装施加与实际使用环境相同的恶劣热限界特性，由此能够检测存储器封装的热限界特性。本发明的具备施加恶劣条件结构的用于存储器封装检测的固定夹具具备上部夹具、下部夹具、推进器外壳、升降板、加压板、升降构件、推进器单元、热环境恶劣构件、冷却构件、升降杆以及闭合盖。

主权项

一种具备施加恶劣条件结构的用于检测存储器封装的固定夹具，其特征在于，其包括：上部夹具，具备与设置在插座板的各插座对应地上下贯穿形成，且实现存储器封装的安装的封装安装部；下部夹具，将所述插座板固定在与所述上部夹具之间；推进器外壳，构成为其一端与所述上部夹具的上部一侧铰接，另一端能够上下旋转；升降板，能够弹性升降地设置在所述推进器外壳的下部侧；加压板，设置在所述推进器外壳的下部，构成为能够左右直线移动，从而使所述升降板升降；升降构件，实现所述升降板的升降；推进器单元，设置在所述升降板的下部，且下部面具备对所述存储器封装进行加压的推进器，所述推进器形成于与各个所述封装安装部对应的位置上；热环境恶劣构件，设置在所述推进器单元的上部面，通过发热和吸热，对所述存储器封装施加恶劣温度条件；冷却构件，所述热环境恶劣构件进行发热和吸热时实现冷却；升降杆，设置在所述升降板的一侧，通过左右旋转，使所述加压板左右直线移动。