发明名称 対象物質分析チップ
摘要 小型で、短時間且つ少ない労力で対象物質を分析可能な対象物質分析チップを提供する。対象物質分析チップは、第1可撓性基板1、第2可撓性基板2、第3基板3を有する。第1可撓性基板1と第2可撓性基板2との接着面に、帯状の流路用非接着領域11が形成され、流路用非接着領域11の一部に帯幅が広がった抽出室用非接着領域5が形成されている。第1可撓性基板1は、流路用非接着領域11と接する貫通孔7を有し、第2可撓性基板2と第3基板3の接着面に、シャッター用非接着領域12bが、流路用非接着領域11と上下で交差するように、抽出室用非接着領域5より貫通孔7から遠い側に帯状に形成され、第1可撓性基板1と第2可撓性基板2とは、シャッター用非接触領域12bと接するように貫通する圧力供給口18bを有し、抽出室用非接着領域5上部に、対象物質と結合する磁性体粒子16が配置されている。
申请公布号 JPWO2013140846(A1) 申请公布日期 2015.08.03
申请号 JP20140506059 申请日期 2013.01.23
申请人 日本電気株式会社 发明人 麻生川 稔;萩原 久;三品 喜典;飯村 靖夫
分类号 G01N35/08;G01N37/00 主分类号 G01N35/08
代理机构 代理人
主权项
地址