发明名称 基于折叠式比较器的STT-RAM读取电路及控制方法
摘要 本发明涉及一种基于折叠式比较器的STT-RAM读取电路及控制方法。所述读取电路,包括一折叠式共源共栅比较器及与该折叠式共源共栅比较器连接的并行磁隧道结、控制逻辑电路和反相器,所述反相器还连接有第一D触发器和第二D触发器,所述第一D触发器和第二D触发器的时钟控制输入端分别连接至时钟输出模块的第一时钟信号输出端和第二时钟信号输出端,所述第一D触发器和第二D触发器的反相输出端分别输出并行磁隧道结中存储的高位数据和低位数据。本发明提供的读取电路可以有效的提高读取速度,节省了功耗,增大了输出摆幅和增益,提高了与数字系统对接时整个读取电路的可靠性。
申请公布号 CN104795095A 申请公布日期 2015.07.22
申请号 CN201510189983.2 申请日期 2015.04.21
申请人 福州大学 发明人 魏榕山;黄海舟;郭仕忠;王珏;胡惠文;张泽鹏;何明华
分类号 G11C11/16(2006.01)I 主分类号 G11C11/16(2006.01)I
代理机构 福州元创专利商标代理有限公司 35100 代理人 蔡学俊
主权项 一种基于折叠式比较器的STT‑RAM读取电路,其特征在于:包括一折叠式共源共栅比较器及与该折叠式共源共栅比较器连接的并行磁隧道结、控制逻辑电路和反相器,所述反相器还连接有第一D触发器和第二D触发器,所述第一D触发器和第二D触发器的时钟控制输入端分别连接至时钟输出模块的第一时钟信号输出端和第二时钟信号输出端,所述第一D触发器和第二D触发器的反相输出端分别输出并行磁隧道结中存储的高位数据和低位数据,所述控制逻辑电路还连接有一用于提供参考电压的外部电压输出电路,所述折叠式共源共栅比较器的第一MOS管的源极和第二MOS管的源极均连接至VDD端,所述第一MOS管的栅极连接第二MOS管的栅极,所述第一MOS管的漏极和第二MOS管的漏极分别连接第三MOS管的源极和第四MOS管的源极,所述第三MOS管的栅极和第四MOS管的栅极相连接,所述第三MOS管的漏极与第五MOS管的漏极相连接至第七MOS管及第八MOS管的栅极,所述第四MOS管的漏极和第六MOS管的漏极相连接至所述反相器的输入端,所述第五MOS管的栅极和第六MOS管的栅极相连接,所述第五MOS管的源极和第六MOS管的源极分别连接第七MOS管的漏极和第八MOS管的漏极,所述第一MOS管的漏极和第二MOS管的漏极还分别连接第十MOS管的漏极和第九MOS管的漏极,所述第九MOS管的源极和第十MOS管的源极相连接至第十一MOS管的漏极,所述第十一MOS管的源极与所述第七MOS管的源极和第八MOS管的源极相连接至地,所述第一MOS管的源极和第九MOS管的栅极分别连接至并行磁隧道结的两端,所述第九MOS管的栅极还连接至第十二MOS管的漏极,所述第十二MOS管的源极接地,所述第十二MOS管的栅极接至时钟信号发生器的主时钟信号输出端。
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