利用抛物面镜校正扫描角度的激光扫描采样装置

摘要

本发明公开了一种利用抛物面镜校正扫描角度的激光扫描采样装置，包括激光器组、合束镜组、半透半反镜、光偏转器、抛物面镜、分色镜组和探测器组，所述激光器组发出不同波长的激光，经合束镜组合束后出射至半透半反镜，所述激光由半透半反镜分为透射激光与反射激光，其中透射激光经光偏转器偏转后形成一定角度的扫描激光，经由抛物面镜反射后，形成平行的扫描激光垂直入射扫描面，扫描面散射的部分光信号按原光路返回至光偏转器，再由光偏转器反射至半透半反镜，经分色镜组将不同波长的光信号送入探测器组。本发明解决非垂直入射的情况下，光信息随扫描光入射角度的增大而衰减的问题。

主权项

一种利用抛物面镜校正扫描角度的激光平面扫描采样装置，其特征在于：包括激光器组、合束镜组、半透半反镜、光偏转器、抛物面镜、分色镜组和探测器组，所述激光器组发出不同波长的激光，经合束镜组合束后出射至半透半反镜，所述激光由半透半反镜分为透射激光与反射激光，其中透射激光经光偏转器偏转后形成一定角度的扫描激光，经由抛物面镜反射后，形成平行的扫描激光垂直入射扫描面，扫描面散射的部分光信号按原光路返回至光偏转器，再由光偏转器反射至半透半反镜，经分色镜组将不同波长的光信号送入探测器组；所述合束镜组与分色镜组为二向色镜组；所述光偏转器为转鼓棱镜或振镜；所述抛物面镜的抛物面轮廓曲线方程用抛物线方程逼近：其中，x轴方向为激光入射至光偏转器的入射方向，y轴方向与该入射方向垂直，a为光偏转器偏转点横坐标与抛物面镜上离光偏转器最远的反射点的横坐标的差，b为抛物面镜上离光偏转器最远的反射点的纵坐标，扫描宽度为(b‑a)；所述透射激光在光偏转器上的入射点落于所述抛物线方程的焦点处；所述参数a＝20cm，b＝81.6cm所述抛物面镜一端点C坐标为(52cm，81.6cm)，另一端点坐标为P(3.125cm,20cm)。