发明名称 | 发光元件点测机台 | ||
摘要 | |||
申请公布号 | TWI485370 | 申请公布日期 | 2015.05.21 |
申请号 | TW102119870 | 申请日期 | 2013.06.04 |
申请人 | 致茂电子股份有限公司 | 发明人 | 高宏达;张敏宏 |
分类号 | G01J1/02 | 主分类号 | G01J1/02 |
代理机构 | 代理人 | 翁仁滉 台北市万华区万大路424巷21号2楼 | |
主权项 | 一种发光元件点测机台,透过施加电性使一发光元件导通发光,进而收集发光元件之光性资料,包括:一承载平台,具有一个形成跨设空间的承载位置,该承载位置的跨设空间系用于承置至少一发光元件;一组探针,用于接触发光元件并提供所需施加的电性,使所接触的发光元件导通发光;一第一光性收集装置,对应设置于该承载平台上方,用于收集发光元件经该组探针接触导通后,由形成跨设空间的该承载位置向上方所发出的光;以及一第二光性收集装置,对应设置于该承载平台下方,用于收集发光元件经该组探针接触导通后,经由形成跨设空间的该承载位置向下方所发出的光。 | ||
地址 | 桃园市龟山区华亚科技园区华亚一路66号 |