发明名称 Wafer cleaning device of chemical mechanical polishing equipment
摘要 <p>본 고안은 화학기계연마 후에 웨이퍼(W) 상에 잔존하는 산화물, 슬러리 잔류물, 연마 파티클 등이 브러쉬(11)에 끼어 웨이퍼(W)에 스크래치가 생기는 문제를 해결하기 위한 화학기계적연마 장비의 웨이퍼 세정 장치(100)에 관한 것으로서, 한 쌍의 브러쉬롤러(10), 웨이퍼 세정바아(20), 브러쉬 세척바아(30), 웨이퍼 감지부(40) 및 탈이온수 공급계(50)를 포함하여 구성된다.</p>
申请公布号 KR20150001372(U) 申请公布日期 2015.04.08
申请号 KR20130008041U 申请日期 2013.09.30
申请人 发明人
分类号 H01L21/304 主分类号 H01L21/304
代理机构 代理人
主权项
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