发明名称 一种基于图像识别技术的坏玉米粒检测方法
摘要 本发明提供一种基于图像识别技术的坏玉米粒检测方法,包括:步骤1、通过摄像头对n个方格中的玉米粒进行整体图像采集;步骤2、重复m次步骤1,采集并存储得到的m张图像;步骤3、图像识别模块读取第1张图像;步骤4、调整图像宽度为n的倍数;步骤5、将调整后的图像平均划分为n个感兴趣区域,并提取对应的n张子图像;步骤6、统计子图像玉米粒区域内坏掉部分对应像素的总像素点数;步骤7、判断该子图像对应的玉米粒是否为坏玉米粒,并得到需要的统计信息;步骤8、标示出坏玉米粒的位置信息;步骤9、重复步骤3-步骤7,直至第m张图像处理完毕。本发明实现了坏玉米粒的自动筛选,减少了工作量,具有实时、高效、无损伤等优点。
申请公布号 CN104484653A 申请公布日期 2015.04.01
申请号 CN201410774658.8 申请日期 2014.12.16
申请人 郑州大河智信科技股份公司 发明人 赵华东
分类号 G06K9/00(2006.01)I;G06K9/46(2006.01)I 主分类号 G06K9/00(2006.01)I
代理机构 郑州中原专利事务所有限公司 41109 代理人 李想
主权项 一种基于图像识别技术的坏玉米粒检测方法,其特征在于包括以下步骤:步骤1、将玉米粒放入n个尺寸相同且依次连接的方格中,每个方格中放1粒;通过与检测设备连接的摄像头对摆放在n个方格中的玉米粒进行整体图像采集;步骤2、重复m次步骤1,把采集到的m张图像存储到检测设备的存储模块;步骤3、通过检测设备的图像识别模块,从存储模块中读取采集到的第1张图像;步骤4、调整图像的宽度为n的倍数;步骤5、将调整后的图像平均划分为n个感兴趣区域,并提取对应的n张子图像;步骤6、将每个子图像中的每点像素值与阈值I进行比较,统计玉米粒区域内坏掉部分对应像素的总像素点数;步骤7、将所述总像素点数与阈值II进行比较,判断该子图像对应的玉米粒是否为坏玉米粒,并得到需要的统计信息;步骤8、检测设备的显示模块显示识别后的子图像,并标示出坏玉米粒的位置信息;步骤9、顺序读取采集到的第2张图像,重复步骤4‑步骤8,直至第m张图像处理完毕,标示出坏玉米粒的位置信息。
地址 450001 河南省郑州市高新区银屏路38号