一种电容屏节点电容测试仪及其测试方法

摘要

本发明提供一种电容屏节点电容测试仪及其测试方法，其结构是由微处理器MCU、电容数字传感器芯片MS3110、探针A、探针B、补偿电容Cref和被检测电容Ctest组成，其中微处理器MCU的AD脚接电容数字传感器芯片MS3110的Vout脚，电容数字传感器芯片MS3110的CSCOM脚和CS21N脚分别串接探针A和探针B接被检测电容Ctest的两脚，补偿电容的两脚与电容数字传感器芯片MS3110的CSCOM脚和CS1N脚并接。

主权项

一种电容屏节点电容测试仪及其测试方法，其特征在于，其结构是由微处理器MCU、电容数字传感器芯片MS3110、探针A、探针B、补偿电容Cref和被检测电容Ctest组成，其中微处理器MCU的AD脚接电容数字传感器芯片MS3110的Vout脚，电容数字传感器芯片MS3110的CSCOM脚和CS21N脚分别串接探针A和探针B接被检测电容Ctest的两脚，补偿电容的两脚与电容数字传感器芯片MS3110的CSCOM脚和CS1N脚并接，具体测试步骤如下：1）当Ctest空载时，通过调节补偿电容Cref和MS3110芯片内部的步进电容使输出Vout为0.5V，这时输出电容为零，此步骤为电容校准；2）用探针A接到电容屏ITO1的一根引脚上，用探针B接到电容屏ITO2的一根引脚上，此时通过输出电压计算得到的电容为电容屏两层ITO之间的节点电容。