发明名称 |
用于高原子数材料的自动快速检测的系统和方法 |
摘要 |
本发明贯注于一种检查系统,包括:辐射源、检测器阵列、检查范围和处理单元,其中所述处理单元:a)获得射线照相图像;b)基于辐射衰减或透射分割所述射线照相图像;c)在所述射线照相图像上识别至少一个分割区域;d)使用至少一个几何滤波器对所述至少一个分割区域滤波;e)使用所滤波的分割区域生成特征矢量;以及f)将所述特征矢量与预定值进行比较,以确定是否存在高原子数的对象。 |
申请公布号 |
CN102460067B |
申请公布日期 |
2015.02.25 |
申请号 |
CN201080031948.3 |
申请日期 |
2010.05.16 |
申请人 |
拉皮斯坎系统股份有限公司 |
发明人 |
小罗伯特.A.阿米斯泰德;J.A.布朗;W.Z.常;E.D.弗朗科;J.本达汉 |
分类号 |
G01B15/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01B15/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
邸万奎 |
主权项 |
一种检查系统,包括处理单元,其中所述处理单元配置成:i.获得表示射线照相图像的数据;ii.基于辐射衰减或透射分割所述数据,产生潜在高原子数区域的图;iii.在所述表示所述射线照相图像的数据内识别至少一个分割区域;iv.使用至少一个图形滤波器对所述至少一个分割区域滤波;v.使用所滤波的分割区域生成多个特征矢量;以及vi.将所述特征矢量与预定值进行比较,以确定是否存在高原子数的对象。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |