发明名称 |
变形测量装置 |
摘要 |
本实用新型适用于变形测量技术领域,提供了一种变形测量装置,包括基架、滑动连接于所述基架的上标距移动块和下标距移动块,所述基架连接有用于驱动所述上标距移动块和下标距移动块相对滑动的升降驱动部件,所述上标距移动块连接有上夹持臂,所述下标距移动块连接有下夹持臂,所述上标距移动块和下标距移动块之间连接有用于测量上标距移动块和下标距移动块之间距离的位移测量部件。本实用新型所提供的变形测量装置,其连接有用于测量上标距移动块和下标距移动块之间距离的位移测量部件,可以直接测量上标距移动块和下标距移动块之间距离,不受传动机构的传动间隙干扰,测量结果精确、可靠。 |
申请公布号 |
CN204128894U |
申请公布日期 |
2015.01.28 |
申请号 |
CN201420579030.8 |
申请日期 |
2014.09.30 |
申请人 |
深圳市精创诚科技有限公司 |
发明人 |
董学士 |
分类号 |
G01N3/06(2006.01)I |
主分类号 |
G01N3/06(2006.01)I |
代理机构 |
深圳中一专利商标事务所 44237 |
代理人 |
张全文 |
主权项 |
一种变形测量装置,包括基架、滑动连接于所述基架的上标距移动块和下标距移动块,所述基架连接有用于驱动所述上标距移动块和下标距移动块相对滑动的升降驱动部件,所述上标距移动块连接有上夹持臂,所述下标距移动块连接有下夹持臂,其特征在于,所述上标距移动块和下标距移动块之间连接有用于测量上标距移动块和下标距移动块之间距离的位移测量部件。 |
地址 |
518000 广东省深圳市南山区西丽白沙物流园综合楼A座603 |