发明名称 | 用于半导体装置的并行测试的系统 | ||
摘要 | 一种帮助测试工程师创建并行测试计划的工具。所述工具可迅速地将测试系统资源映射到特定引脚以满足并行测试的需求。当可以进行此类映射时,所述工具可预计测试时间。当不能进行映射时,所述工具可告知其用户,包括提出有关可允许所述测试系统执行所述测试的另外资源的建议或有关可允许映射的输入参数的其他变型的建议。所述工具采用一种分配方法,其中识别相关引脚的组以及每组的相关资源需求。识别共同满足较高级需求的测试系统资源组,并通过将资源集合映射到资源组进行所述分配,同时使用排序和匹配启发法以减少处理时间。 | ||
申请公布号 | CN103038656B | 申请公布日期 | 2015.01.14 |
申请号 | CN201180022547.6 | 申请日期 | 2011.05.04 |
申请人 | 泰拉丁公司 | 发明人 | 贝瑟尼·范瓦格勒;森格·J·爱德华 |
分类号 | G01R31/319(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/319(2006.01)I |
代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人 | 戚传江;穆德骏 |
主权项 | 一种运行计算装置的方法,用于为具有多个引脚的装置生成并行测试计划的信息并且由具有多个资源的测试系统执行,所述方法包括:使用至少一个处理器:a)针对多个引脚组的每一组,识别一个资源需求集合,其中,所述资源需求集合包括执行所述多个引脚组的所述组的测试所需要的资源;b)识别多个测试系统资源集合,所述多个测试系统资源集合中的每个包括共同满足需求的一个或多个测试系统资源;以及c)将所述多个测试系统资源集合中的集合与所述多个引脚组中的相应组匹配。 | ||
地址 | 美国马萨诸塞州 |