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Verfahren zur Bestimmung von Eigenschaften von Ionen in einem Flugzeit- oder Elektrostatische-Falle-Massenanalysator (10), umfassend die folgenden Schritte: (1) Einleiten von Ionen in den Massenanalysator (10); (2) Veranlassen, dass die Ionen einen Abschnitt einer Hauptflugbahn (40) innerhalb des Massenanalysators (10) befolgen, wobei die Hauptflugbahn (40) mehrfache Richtungsänderungen umfasst; (3) Durchführen einer Strahlablenkung, um zumindest einige der Ionen von der Hauptflugbahn (40) abzulenken, so dass sie auf eine sich innerhalb des Massenanalysators (10) befindende Detektionsfläche (200) auftreffen, wobei die Detektionsfläche (200) einen Teil einer das Analysatorfeld des Massenanalysators (10) aufrecht erhaltenden Elektrode (20) bildet; (4) Messen einer Größe, die für die Ladung, die an der Detektionsfläche (200) ankommt und durch die auftreffenden Ionen erzeugt wird, repräsentativ ist; (5) Bestimmen, aus der angewandten Strahl-Ablenkung, von Eigenschaften einer Trajektorie, der die Ionen direkt vor der Strahl-Ablenkung folgten, und/oder Bestimmen, aus der gemessenen Größe, eines Werts, der für die Anzahl von Ionen, die auf die Detektorfläche (200) auftrafen, repräsentativ ist; wobei das Analysatorfeld in der Nähe der Detektionsfläche (200) nicht null ist. |
