发明名称 プログラム可能な試験機器
摘要 概して、試験機器は、試験機器にインターフェース接続されたデバイスを試験するために、1つ以上の試験プログラムを実行するようにプログラム可能であり、かつ試験機器の動作を制御するようにプログラムされる、第1の処理システムと、デバイス試験専用である、第2の処理システムとを含む。第2の処理システムは、デバイスを試験するために、1つ以上の試験プログラムを実行するようにプログラム可能であり、第1の処理システムは、第1のアプリケーションプログラミングインターフェース(API)を有し、第2の処理システムは、第2のAPIを有し、第1のAPI及び第2のAPIは、異なるAPIであり、第1のAPI及び第2のAPIは、少なくとものいくつかの重複する関数を有する。
申请公布号 JP2014532914(A) 申请公布日期 2014.12.08
申请号 JP20140538797 申请日期 2012.09.20
申请人 テラダイン・インコーポレーテッドTERADYNE INCORPORATED 发明人 フリック、ロイド・ケイ;リンド、デビッド・ジョン
分类号 G06F11/22;G06F9/445 主分类号 G06F11/22
代理机构 代理人
主权项
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