| 发明名称 |
用来使抛射体程式化之装置及方法 |
| 摘要 |
本发明揭示一种测量装置(10、10')，其包含于用于一抛射体(18)之一测量及程式化基础上，其侦测由一程式化线圈(27)呈现/产生之场及/或信号并电连接至本身评估此等侦测值之一评估器件(16)。在特殊情况下，接着可将此等值列入抛射体(18)之程式化考量。 |
| 申请公布号 |
TWI458935 |
申请公布日期 |
2014.11.01 |
| 申请号 |
TW101113839 |
申请日期 |
2012.04.18 |
| 申请人 |
雷密特爱尔迪芬斯公司 瑞士 |
发明人 |
穆勒 柯特;亚波提 艾多 |
| 分类号 |
F41A19/63;F41A31/02;F42C11/00;F42C17/04 |
主分类号 |
F41A19/63 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼 |
| 主权项 |
一种用来程式化具有至少一程式化线圈(27)之一程式化抛射体(18)之装置，其特征在于包含一测量装置(10、10')，其侦测由程式化线圈(27)呈现/产生之场及/或信号并电连接至评估此等侦测值之一评估器件(16)。 |
| 地址 |
瑞士 |
