| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Bestimmung der Welligkeit einer Oberfläche (R), wobei Licht auf die Oberfläche (R) gerichtet und von der Oberfläche (R) auf eine Projektionsfläche (P) reflektiert wird, wobei anhand der resultierenden Abbildung auf der Projektionsfläche (P) die Welligkeit bestimmt wird. Dabei wird mit dem Licht ein maschinenlesbarer graphischer Code auf die Oberfläche (R) projiziert und von der Oberfläche (R) zu der Projektionsfläche (P) reflektiert und auf der Projektionsfläche (P) abgebildet, wobei die Abbildung auf der Projektionsfläche (P) mittels einer Kamera (K) aufgenommen und automatisch ausgewertet wird, wobei ein Wert für die Qualität der Abbildung ermittelt wird, und wobei der Wert als Maß für die Welligkeit verwendet wird. Durch dieses Verfahren ist es möglich, einen flächenhaften Abschnitt der Oberfläche (R) insgesamt hinsichtlich einer durchschnittlichen Oberflächenwelligkeit zu untersuchen, wobei eine herkömmliche Auswertekamera (K) für mehrdimensionale graphische Codes verwendet werden kann.</p> |
