发明名称 組み合わされたシリコン酸化膜エッチング及び汚染物除去プロセス
摘要 半導体装置を形成する方法。第1及び第2の材料を有する基板が提供され、第2の材料は、第1の材料によって吸蔵される。前記基板は、第1のノンプラズマエッチングプロセスを使用してエッチングされ、前記プロセスは、第2の材料をエッチングする速度と比較してより速い速度で第1の材料をエッチングする。第1のノンプラズマエッチングプロセスは、第1の材料の少なくとも一部の上に重なる第2の材料を曝露する。第2の材料は、次に、反応性ガスを含有するプラズマを使用してエッチングされ、第1の材料の少なくとも一部を曝露する。第2の材料をエッチングすることにより曝露された第1の材料の少なくとも一部を含む第1の材料が、第2のノンプラズマエッチングプロセスを使用してエッチングされる。
申请公布号 JP2014528181(A) 申请公布日期 2014.10.23
申请号 JP20140533585 申请日期 2012.09.14
申请人 東京エレクトロン株式会社 发明人 ゲーロード,リチャード,エイチ;メッサー,ブレイズ,ジェイ;クマール,カウシィク,エイ
分类号 H01L21/3065;H01L21/302 主分类号 H01L21/3065
代理机构 代理人
主权项
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