发明名称 ВЫСОКОЧАСТОТНЫЙ ЭЛЕКТРОННО-ИОННЫЙ МИКРОСКОП
摘要 Высокочастотный электронно-ионный микроскоп состоит из вакуумной камеры, находящихся в ней источника заряженных частиц, исследуемого объекта, флуоресцирующего экрана, апертурной диафрагмы, расположенной вне вакуумной камеры системы контуров создающей магнитное поле и системы юстировки, отличающийся тем, что вакуумная камера выполнена в виде участка трубы на концах которого находятся источник заряженных частиц и исследуемый объект, контуры с током расположены параллельно плоскости вакуумной камеры, соединены с генератором высокочастотного переменного тока и создают аксиально-симметричное фокусирующее магнитное поле с частотой 10-10герц, которое индуцирует ускоряющее электрическое поле с разностью потенциалов между источником заряженных частиц, исследуемым объектом, апертурной диафрагмой и флоресцирующим экраном, источник заряженных частиц состоит из соосных цилиндров, кромки которых имеют радиус закругления 10м, источник заряженных частиц, исследуемый объект, апертурная диафрагма и флоресцирующий экран расположены по траектории движения заряженных частиц под аксиальными углами друг к другу.
申请公布号 RU2013115328(A) 申请公布日期 2014.10.10
申请号 RU20130115328 申请日期 2013.04.05
申请人 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Ижевский государственный технический университет имени М.Т. Калашникова 发明人 Ефимов Игорь Николаевич;Морозов Евгений Александрович;Косов Евгений Сергеевич;Германюк Денис Евгеньевич
分类号 H01J37/26 主分类号 H01J37/26
代理机构 代理人
主权项
地址