发明名称 | 最优化对数似然比的方法以及纠错方法和设备 | ||
摘要 | 提供了一种最优化用于纠正与存储在非易失性存储器设备中的数据有关的错误的对数似然比(LLR)的方法。在该方法中,监控包括在非易失性存储器设备中的多个存储器单元的阈值电压分布的变化,并且基于监控结果更新用于存储器单元的LLR。即使存储器单元的特性退化,LLR仍持续地维持在最优值。 | ||
申请公布号 | CN104052498A | 申请公布日期 | 2014.09.17 |
申请号 | CN201410096588.5 | 申请日期 | 2014.03.14 |
申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 尹翔镛;金经纶;千镇泳 |
分类号 | H03M13/11(2006.01)I;G06F11/10(2006.01)I | 主分类号 | H03M13/11(2006.01)I |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 李琳 |
主权项 | 一种最优化用于纠正与存储在非易失性存储器设备中的数据有关的错误的对数似然比(LLR)的方法,该方法包括:监控包括在所述非易失性存储器设备中的多个存储器单元的阈值电压分布的变化;以及基于监控的结果更新用于所述存储器单元的LLR。 | ||
地址 | 韩国京畿道 |