发明名称 光电耦合件测试用夹具及光电耦合件测试方法
摘要 一种光电耦合件测试用夹具,其用于在测试一光电耦合件时夹持该光电耦合件。所述夹具包括一第一夹板及一与所述第一夹板相配合的第二夹板。所述第一夹板包括一上表面、一背离所述上表面的下表面及一第一侧面。所述第一夹板于所述上表面与所述第一侧面的交界处向所述下表面延伸开设有一收容槽。所述收容槽用于收容所述光电耦合件。所述第二夹板包括一顶面及一第二侧面。所述顶面向所述第二侧面延伸形成有一倾斜的斜面。所述斜面布设有一反射层,所述光电耦合件的一表面上的耦合透镜投影在所述反射层上。本发明还涉及一种光电耦合件测试方法。
申请公布号 CN103940583A 申请公布日期 2014.07.23
申请号 CN201310021297.5 申请日期 2013.01.21
申请人 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 发明人 郭章纬
分类号 G01M11/00(2006.01)I 主分类号 G01M11/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种光电耦合件测试用夹具,其用于在测试一光电耦合件时夹持该光电耦合件,其特征在于:所述夹具包括一第一夹板及一与所述第一夹板相配合的第二夹板,所述第一夹板包括一上表面、一背离所述上表面的下表面及一第一侧面,所述第一夹板于所述上表面与所述第一侧面的交界处向所述下表面延伸开设有一收容槽,所述收容槽用于收容所述光电耦合件,所述第二夹板包括一顶面及一第二侧面,所述顶面向所述第二侧面延伸形成有一倾斜的斜面,所述斜面布设有一反射层,所述光电耦合件的一表面上的耦合透镜投影在所述反射层上。
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